PDL/IL多功能測試儀

General Photonics公司的PDL/IL多功能測試儀(PDL-201)采用大值/小值搜尋法(符合TIA/EIA-455-198標準)，能夠對器件的偏振相關損耗(PDL)、插入損耗(IL)、光功率進行快速測量，測量速度0.2s。該測試儀工作波長覆蓋1260～1620nm，在高、低PDL和各種SOP的情況下都能得到精確的測量結果。該測試儀擁有RS-232、USB 及以太網接口，可以方便地與計算機連接，進行遠程控制和數據傳輸，是精確、快速測量無源器件、DWDM 器件的理想儀器。

主要應用：

1、偏振相關損耗(PDL)的測量

2、插入損耗(IL)的測量

3、器件特性監測

PDL/IL多功能測試儀技術規格
PDL-201在1260至1650 nm的波長范圍內工作。它的測量速度為30毫秒，并且可以在整個測量范圍內準確地測量PDL或IL到±（0.01 + PDL或IL的5％）dB以內。PDL-201可以從前面板進行控制，也可以通過USB，以太網，RS-232或GPIB接口進行遠程控制。此外，它還具有用戶可配置的模擬監控器電壓輸出，以監控PDL值。

與所有Gen2儀器一樣，它具有OLED圖形顯示屏，人體工學鍵盤和通用電源。